发明名称 |
一种BTS型栅SOI器件的建模方法 |
摘要 |
一种SOI MOS器件的建模方法,其中该SOI MOS器件为BTS型栅SOI MOS器件,该方法包括:a.提取所述MOS器件的模型参数,包括直流参数和交流参数;b.计算额外栅电容;c.以提取的MOS器件模型为基础,采用子电路模型,在栅和体之间加上额外的栅电容,生成最终模型。根据本发明提供的建模方法,考虑BTS型栅SOI器件中额外的山电容对器件的性能的影响,提高了模型的精确度,能够有效的运用于对BTS型栅SOI器件的仿真设计。 |
申请公布号 |
CN103955574B |
申请公布日期 |
2017.01.04 |
申请号 |
CN201410167764.X |
申请日期 |
2014.04.24 |
申请人 |
中国科学院微电子研究所 |
发明人 |
卜建辉;罗家俊;韩郑生 |
分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 |
北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 |
代理人 |
朱海波 |
主权项 |
一种SOI MOS器件的建模方法,其中该SOI MOS器件为BTS型栅SOI MOS器件,该方法包括:a.提取所述MOS器件的模型参数,包括直流参数和交流参数<u>,</u>根据所提取的MOS管的交流参数,获得该MOS管的电容,根据MOS管的电容获取单位面积栅氧电容;b.计算额外栅电容;c.以提取的MOS器件模型为基础,采用子电路模型,在栅和体之间加上额外栅电容,生成最终模型。 |
地址 |
100029 北京市朝阳区北土城西路3号 |