一种电力电子芯片的高压检测装置和高压检测方法

摘要

本发明提供了一种电力电子芯片的高压检测装置和高压检测方法，该装置的探针台的台面上放置有导电盘，导电盘内盛装有高度高于电子电力芯片的厚度的隔离剂；该方法包括烘烤待测的电力电子芯片，并将其放置在检测用仪器的探针台上浸入到隔离剂中，然后施加高电压进行高压检测，检测完成后将电力电子芯片从隔离剂中取出并烘烤。本发明提供的技术方案简单且易于实现，其避免了高压检测过程中打火现象的发生，同时也有效的保护了待测的电力电子芯片，使其不被损毁；同时保证了高压检测的顺利开展；该检测装置及检测方法有效且可靠，提高了电力电子芯片的检测结果的准确性。

主权项

一种电力电子芯片的高压检测装置，包括用于放置待测的电力电子芯片的探针台和向所述电力电子芯片导通高压电的探针，其特征在于，所述探针台的台面上设有用于盛放所述电力电子芯片的导电盘；所述导电盘内有隔离剂，且所述导电盘中隔离剂的高度高于所述电子电力芯片的厚度。