发明名称 耗尽型栅极衬底凸出的P型MOS管
摘要 本发明公开了一种耗尽型栅极衬底凸出的P型MOS管,包括硅衬底;所述硅衬底的两端为硅氧化物制成的隔离区;所述隔离区和所述硅衬底之间有一层过渡层;所述硅衬底的正中间为多晶硅栅;所述多晶硅栅的底部为向上凸起状;所述多晶硅栅的底部和所述硅衬底之间有一层二氧化硅;所述多晶硅栅的顶部由一层钛多晶硅化物;所述多晶硅栅和所述隔离区之间、所述硅衬底之内有P型掺杂的源区和漏区;所述多晶硅栅的两侧有侧墙;在所述多晶硅栅的底部、所述硅衬底之中,有将源区和漏区连接在一起的P型掺杂层。在本发明中,栅极的衬底向上凸出,可于电路的两侧控制电路的接通与断开。这种设计可以大幅改善电路控制并减少漏电流,也可以大幅缩短晶体管的闸长。
申请公布号 CN106298944A 申请公布日期 2017.01.04
申请号 CN201610873926.0 申请日期 2016.09.30
申请人 无锡宏纳科技有限公司 发明人 吕耀安
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 代理人 聂汉钦
主权项 一种耗尽型栅极衬底凸出的P型MOS管,其特征在于,包括硅衬底(1);所述硅衬底(1)的两端为硅氧化物制成的隔离区(3);所述隔离区(3)和所述硅衬底(1)之间有一层过渡层(2);所述硅衬底(1)的正中间为多晶硅栅(5);所述多晶硅栅(5)的底部为向上凸起状;所述多晶硅栅(5)的底部和所述硅衬底(1)之间有一层二氧化硅(7);所述多晶硅栅(5)的顶部由一层钛多晶硅化物(6);所述多晶硅栅(5)和所述隔离区(3)之间、所述硅衬底(1)之内有P型掺杂的源区(8)和漏区(4);所述多晶硅栅(5)的两侧有侧墙(9);在所述多晶硅栅(5)的底部、所述硅衬底(1)之中,有将源区(8)和漏区(4)连接在一起的P型掺杂层(10)。
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