发明名称 |
具有防杂讯机构的电子元件测试装置及其测试分类设备 |
摘要 |
本发明提供一种具有防杂讯机构的电子元件测试装置及其测试分类设备,其包含测试机构及防杂讯机构,该测试机构设有具有至少一测试座的电路板,并以测试座测试电子元件,该防杂讯机构设有至少一具容置空间的隔离室,该隔离室容置测试机构的测试座,并开设有至少一相通容置空间及外部的移料口,还在隔离室的上方设有至少一作动器,该至少一作动器上设有至少一执行预设作业的治具及至少一封闭移料口的封闭件,进而该作动器带动治具及封闭件同步位移,令治具伸入通过隔离室的移料口,在测试座执行下压电子元件的作业,并利用封闭件直接将隔离室的移料口封闭,以防止隔离室外部的杂讯干扰影响电子元件测试作业,达到有效提升测试品质的实用效益。 |
申请公布号 |
CN106291008A |
申请公布日期 |
2017.01.04 |
申请号 |
CN201510315580.8 |
申请日期 |
2015.06.10 |
申请人 |
鸿劲科技股份有限公司 |
发明人 |
谢旼达 |
分类号 |
G01R1/18(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/18(2006.01)I |
代理机构 |
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 |
代理人 |
孙皓晨 |
主权项 |
一种具有防杂讯机构的电子元件测试装置,其特征在于,包含:测试机构:设有具有至少一测试座的电路板,用以测试电子元件;防杂讯机构:设有具有至少一容置空间的隔离室,以容置该测试机构的测试座,该隔离室设有至少一相通该容置空间及外部的移料口,该防杂讯机构设有至少一作动器,该至少一作动器装配至少一执行预设作业的治具,还在该至少一作动器上设有至少一封闭该移料口的封闭件。 |
地址 |
中国台湾台中市 |