发明名称 |
一种X射线缺陷检测控制系统 |
摘要 |
本发明公开了一种X射线缺陷检测控制系统,包括X射线传感器信号采集模块,X射线传感器信号采集模块依次通过信号滤波、信号放大、AD转换器与CPLD模块连接,CPLD模块与SOC模块交互连接;SOC模块分别与数字信号采集存储模块、被检测物体的传输机构、图像检测识别机构、剔除报警机构连接;SOC模块还与人机交互的PC机连接。本发明装置,能与多种外设进行可靠通信,实现了数据的可靠采集,数据的实时存储,高分辨率图像的实时处理,以及处理结果实时反馈,广泛的应用于工业质量控制领域,社会和市场价值巨大。 |
申请公布号 |
CN104133403B |
申请公布日期 |
2017.01.04 |
申请号 |
CN201410347489.X |
申请日期 |
2014.07.21 |
申请人 |
西安工程大学 |
发明人 |
成小乐;屈银虎;张航鲜;蒙青;蒙敏荣;刘新峰 |
分类号 |
G05B19/042(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
G05B19/042(2006.01)I |
代理机构 |
西安弘理专利事务所 61214 |
代理人 |
王奇 |
主权项 |
一种X射线缺陷检测控制系统,其特征在于,包括X射线传感器信号采集模块(1),X射线传感器信号采集模块(1)依次通过信号滤波(2)、信号放大(3)、AD转换器(4)与CPLD模块(5)连接,CPLD模块(5)与SOC模块(6)交互连接;SOC模块(6)分别与数字信号采集存储模块(7)、被检测物体的传输机构(8)、图像检测识别机构(9)、剔除报警机构(10)连接;SOC模块(6)还与人机交互的PC机(11)连接;所述SOC模块(6)中集成配置有ARM+DSP+3D图像加速引擎,SOC模块(6)与CPLD模块(5)之间的连接是采用EMIF接口;所述PC机(11)与SOC模块(6)之间通过USB3.0连接。 |
地址 |
710048 陕西省西安市碑林区金花南路19号 |