发明名称 一种改进的时序植被指数数据合成方法
摘要 本发明公开了一种改进的时序植被指数数据合成方法,包括:A、对地表反射率数据质量进行分级;B、计算各个像元的植被指数,包括NDVI和EVI;C、依据所述地表反射率数据质量评估结果,逐像元地统计清洁像元的个数N;D、依据所述清洁像元个数N的不同,选择不同的操作得到最终的合成值。采用本发明的方法,能够对现有CV‑MVC合成方法中存在的不足进行改进,提高其精细度和限制性。
申请公布号 CN103823220B 申请公布日期 2017.01.04
申请号 CN201410059419.4 申请日期 2014.02.21
申请人 武汉禾讯农业信息科技有限公司 发明人 陈康
分类号 G01S17/89(2006.01)I 主分类号 G01S17/89(2006.01)I
代理机构 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人 刘淑敏
主权项 一种改进的时序植被指数数据合成方法,其特征在于,包括如下步骤:A、对地表反射率数据质量进行分级;具体为:根据是否有云、大气气溶胶厚度、观测角度以及太阳高度,得到各个像元的质量分级Rank,依据分级的不同,分为Rank=0~Rank=7;B、计算各个像元的植被指数,包括NDVI和EVI;所述计算各个像元的植被指数,具体为:<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>N</mi><mi>D</mi><mi>V</mi><mi>I</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>&rho;</mi><mrow><mi>n</mi><mi>i</mi><mi>r</mi></mrow></msub><mo>-</mo><msub><mi>&rho;</mi><mrow><mi>r</mi><mi>e</mi><mi>d</mi></mrow></msub></mrow><mrow><msub><mi>&rho;</mi><mrow><mi>n</mi><mi>i</mi><mi>r</mi></mrow></msub><mo>+</mo><msub><mi>&rho;</mi><mrow><mi>r</mi><mi>e</mi><mi>d</mi></mrow></msub></mrow></mfrac><mo>,</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0001005352970000011.GIF" wi="580" he="147" /></maths>正常地区:<img file="FDA0001005352970000012.GIF" wi="1135" he="153" />或云、雪覆盖的地区:<img file="FDA0001005352970000013.GIF" wi="830" he="135" />其中:G=2.5,L=1.0,C<sub>1</sub>=6,C<sub>2</sub>=‑7.5;所述ρ<sub>nir</sub>为近红外波段反射率,ρ<sub>red</sub>为红光波段反射率,ρ<sub>blue</sub>为蓝光波段反射率;C、依据所述地表反射率数据质量评估结果,逐像元地统计清洁像元的个数N;所述的清洁像元为Rank=0和Rank=1的像元;D、依据所述清洁像元个数N的不同,选择不同的操作得到最终的合成值;步骤D所述依据清洁像元个数N的不同,选择不同的操作得到最终的合成值,具体为:当N≥2时,从当前点多天植被指数中选取清洁像元,得到一个数组VIARR;计算所述VIARR的最大值MaxVi,对VIARR按观测天顶角VZA升序排序,并依次将VIARR中的元素与MaxVi对比,当VIARR中第i个元素VIARR<sub>i</sub>与MaxVi满足如下关系时,<maths num="0002"><math><![CDATA[<mrow><mfrac><mrow><mo>(</mo><mrow><mi>M</mi><mi>a</mi><mi>x</mi><mi>V</mi><mi>i</mi><mo>-</mo><msub><mi>VIARR</mi><mi>i</mi></msub></mrow><mo>)</mo></mrow><mrow><mi>M</mi><mi>a</mi><mi>x</mi><mi>V</mi><mi>i</mi></mrow></mfrac><mo>&lt;</mo><msub><mi>&Delta;</mi><mi>&theta;</mi></msub></mrow>]]></math><img file="FDA0001005352970000014.GIF" wi="603" he="154" /></maths>则选取VIARR<sub>i</sub>作为最终的合成值;其中,Δ<sub>θ</sub>为最大值容忍度,取值范围在0.1~0.3之间。
地址 430223 湖北省武汉市光谷关山大道武大科技园兴业楼北楼1单元603
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