发明名称 |
一种测试装置及测试方法 |
摘要 |
本发明涉及显示技术领域,公开一种测试装置及测试方法,测试装置用于对待测试的液晶模组进行测试,包括:基台;设置在基台上的至少一个测试模块,测试模块上设有与液晶模组的阵列基板上的测试点一一对应的测试探针,在测试时测试探针伸入液晶模组的阵列基板和保护盖板之间与对应的测试点相接触;与测试探针相连接的显示模块,用于接收并显示测试探针发送的测试信号,在测试时测试探针伸入阵列基板和保护盖板之间并与对应的测试点相接触以对测试点进行测试并发送测试信号,显示模块将接收到的测试信号在其显示屏幕上显示;因此,不需要拆除保护盖板就可完成对测试点的测试,减少了对液晶模组的损伤,能够完整地保留客户不良样品,提高解析效率。 |
申请公布号 |
CN106292001A |
申请公布日期 |
2017.01.04 |
申请号 |
CN201610578705.0 |
申请日期 |
2016.07.20 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
发明人 |
杨怀伟 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 |
代理人 |
黄志华 |
主权项 |
一种测试装置,用于对待测试的液晶模组进行测试,其特征在于,包括:基台;设置在基台上的至少一个测试模块,所述测试模块包括与所述液晶模组的阵列基板上的测试点一一对应的测试探针,在测试时所述测试探针伸入所述液晶模组的阵列基板和保护盖板之间与对应的所述测试点相接触;显示模块,所述显示模块与所述测试探针相连接,用于接收并显示测试探针发送的测试信号。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |