发明名称 一种运算放大器集成电路的检测机构
摘要 本发明公开了一种运算放大器集成电路的检测机构,包括检测座,检测座的上端面上设有电压表,检测座的一端成型有向外延伸的检测板,检测板的两侧成型有一对相向设置的弧形导向槽,弧形导向槽的侧壁上嵌置有与弧形导向槽相同弧形的导电圈,导电圈与电压表相连,弧形导向槽内设有检测探针,检测探针与导电圈接触;一对弧形导向槽之间的检测板底面上成型有“十”字形的导向槽,导向槽内插接有触发器底座,触发器底座的底面上成型有环形的调节槽,调节槽的两端内部嵌置有两个转动球,两个转动球的下端之间固定连接有横轴,横轴的中部固定插套有斜置的敲击杆。本发明方便对运算放大器集成电路进行检测,从而提高检测效率。
申请公布号 CN106291327A 申请公布日期 2017.01.04
申请号 CN201610709054.4 申请日期 2016.08.23
申请人 王文庆 发明人 王文庆
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人 连平
主权项 一种运算放大器集成电路的检测机构,包括检测座(10),其特征在于:所述检测座(10)的上端面上设有电压表(20),检测座(10)的一端成型有向外延伸的检测板(13),所述检测板的两侧成型有一对相向设置的弧形导向槽(131),所述弧形导向槽的侧壁上嵌置有与弧形导向槽相同弧形的导电圈(30),所述导电圈上固定连接有导线(31),所述导线与所述电压表(20)的电极柱(21)固定连接在一起,弧形导向槽(131)内设有检测探针(40),所述检测探针与导电圈(30)接触,检测探针(40)的探头(41)穿过弧形导向槽(131)并位于弧形导向槽(131)的下方;所述一对弧形导向槽(131)之间的检测板(13)底面上成型有“十”字形的导向槽(132),所述导向槽内插接有触发器底座(50),所述触发器底座的底面上成型有环形的调节槽(52),所述调节槽的两端内部嵌置有两个转动球(60),所述两个转动球的下端之间固定连接有横轴(61),所述横轴的中部固定插套有斜置的敲击杆(62);所述检测板(13)所在的检测座(10)侧面上成型有长条形的夹持导轨(70),所述夹持导轨的中部固定有第一夹持板(71),所述第一夹持板两侧的夹持导轨(70)上活动设置有一对与第一夹持板(71)相垂直的第二夹持板(72),所述第二夹持板和第一夹持板(71)上均成型有用于夹持运算放大器集成电路板的“匚”字形的夹持槽(74),一对第二夹持板(72)上的夹持槽(74)相向设置。
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