| 发明名称 | 一种用于制造半导体模块的测试机构及其工作方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种用于制造半导体模块的测试机构，主要涉及半导体制造的技术领域，包括了定位部分、测试部分和降料部分；所述测试部分包括：测试座、测试片、测试气缸架、测试气缸和绝缘压杆；所述测试气缸通过测试气缸架固定在机架面板上，所述测试气缸下端装有绝缘压杆；所述测试片固定在测试座上，所述测试座安装在机架面板上；本发明测试机构的整体结构及其运行过程非常简单，维修保养方便快捷，成本低廉，并且其自动化程度高，人员操作简单,能够保证长时间高效稳定的运行。本发明还公开了一种用于制造半导体模块的测试机构的工作方法。 | ||
| 申请公布号 | CN106298592A | 申请公布日期 | 2017.01.04 |
| 申请号 | CN201610665928.0 | 申请日期 | 2016.08.15 |
| 申请人 | 太仓高创电气技术有限公司 | 发明人 | 程嘉义 |
| 分类号 | H01L21/67(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/67(2006.01)I |
| 代理机构 | 苏州市方略专利代理事务所(普通合伙) 32267 | 代理人 | 马广旭 |
| 主权项 | 一种用于制造半导体模块的测试机构，其特征在于：包括：定位部分、测试部分和降料部分；所述测试部分包括：测试座（5）、测试片（6）、测试气缸架（7）、测试气缸（8）和绝缘压杆（10）；所述测试气缸（8）通过测试气缸架（7）固定在机架面板上，所述测试气缸（8）下端装有绝缘压杆（10）；所述测试片（6）固定在测试座（5）上，所述测试座（5）安装在机架面板上。 | ||
| 地址 | 215431 江苏省苏州市太仓市浏河镇新闸村 | ||