| 发明名称 | 微观缺陷检测装置及其控制方法、显微镜 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种微观缺陷检测装置及其控制方法、显微镜，属于显示技术领域。所述微观缺陷检测装置包括：检测组件和标记组件，所述检测组件和所述标记组件均设置在显微镜上，所述检测组件用于检测被测对象上存在微观缺陷的第一区域；所述标记组件用于在所述检测组件检测到所述第一区域后，采用第一标记印章标记所述第一区域中的微观缺陷。本发明解决了现有技术中微观缺陷检测装置的功能较单一的问题，实现了丰富了微观缺陷检测装置的功能的效果，用于检测微观缺陷。 | ||
| 申请公布号 | CN106290376A | 申请公布日期 | 2017.01.04 |
| 申请号 | CN201610580102.4 | 申请日期 | 2016.07.21 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 | 发明人 | 王鹏;刘勋 |
| 分类号 | G01N21/88(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人 | 滕一斌 |
| 主权项 | 一种微观缺陷检测装置，其特征在于，所述微观缺陷检测装置包括：检测组件和标记组件，所述检测组件和所述标记组件均设置在显微镜上；所述检测组件用于检测被测对象上存在微观缺陷的第一区域；所述标记组件用于在所述检测组件检测到所述第一区域后，采用第一标记印章标记所述第一区域中的微观缺陷。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||