发明名称 一种外延生长方法及掩埋异质结构的外延层
摘要 本发明涉及一种外延生长方法及掩埋异质结构的外延层,包括以下步骤:S1、生长n/p/n/p InP或InGaAsP层的部分或全部;S2、通过掩埋、干法或湿法刻蚀所需要外延生长的形状模型;S3、在形状模型内生长外延结构中所有含Al的材料。本发明先形成n/p/n/p结构的部分或全部,再刻蚀出需要生长的外延层形状,然后在其中生长外延层。利用本发明的方法,可有效结合AlGaInAs/InP材料和BH技术的优点,生长出一种高效激光器外延结构,达到避免Al氧化,降低俄歇复合,带间吸收,改善器件高温特性的作用,同时减小激光器阈值电流密度,提高有源层材料的特征温度以及有源区量子阱的外量子效率、内量子效率和转换效率。
申请公布号 CN106300013A 申请公布日期 2017.01.04
申请号 CN201610880104.5 申请日期 2016.10.09
申请人 武汉华工正源光子技术有限公司 发明人 李鸿建
分类号 H01S5/323(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01S5/323(2006.01)I
代理机构 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人 程殿军;张瑾
主权项 一种外延生长方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、生长n/p/n/p InP或InGaAsP层的部分或全部;S2、通过掩埋、干法或湿法刻蚀所需要外延生长的形状模型;S3、在形状模型内生长外延结构中所有含AL的材料。
地址 430223 湖北省武汉市东湖高新技术开发区华中科技大学科技园正源光子产业园