| 摘要 |
본 발명은 영구자석 등을 포함하는 테스트 될 제품을 자력없이 맞물림 결합 방식으로 임시 고정한 후 제품의 테스트를 수행함으로써 상기 자력에 의하여 테스트 되는 제품의 테스트 불량을 방지 또는 제품의 테스트 정밀도 감소를 방지하는 테스트 소켓을 제공하며, 테스트 소켓은 제1 힌지부가 형성되며 테스트 제품이 탑재되는 제품 안착부를 포함하는 제1 플레이트; 제2 힌지부가 형성되며 상기 테스트 제품의 접속 단자와 접속되는 핀 블럭을 포함하는 제2 플레이트; 상기 제1 및 제2 힌지부들에 결합되어 상기 제1 플레이트 및 상기 제2 플레이트들을 회동시키는 힌지 핀; 상기 제1 및 제2 플레이트들 사이에 개재되고, 상기 힌지 핀에 결합되는 제3 힌지부를 포함하며, 상기 테스트 제품의 적어도 일부를 덮는 중간 플레이트; 및 상기 중간 플레이트를 상기 제1 플레이트에 맞물림 결합시키는 맞물림 결합부를 포함한다. |
