发明名称 一种激光测厚仪
摘要 本发明属于测厚仪领域,并公开了一种激光测厚仪,包括C形架以及共同安装在所述C形架上的激光器、感光元件、分束镜、第二上反射镜、第二下反射镜、第一上反射镜、第一下反射镜、上透镜和下透镜,所述第一上反射镜和第一下反射镜关于水平对称面对称设置,所述第二上反射镜和第二下反射镜关于所述水平对称面对称设置,所述上透镜和下透镜关于所述水平对称面对称设置并且两者均为凸透镜,所述分束镜平行于所述水平对称面设置。本发明有效解决了上下两激光不同步的问题,使得测量更稳定、精确,且节省了制造成本。
申请公布号 CN106197295A 申请公布日期 2016.12.07
申请号 CN201610573321.X 申请日期 2016.07.20
申请人 华中科技大学 发明人 周华民;张云;宋世典;王云明;黄志高;杨志明
分类号 G01B11/06(2006.01)I 主分类号 G01B11/06(2006.01)I
代理机构 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人 李佑宏
主权项 一种激光测厚仪,其特征在于,包括C形架以及共同安装在所述C形架上的激光器、感光元件、分束镜、第二上反射镜、第二下反射镜、第一上反射镜、第一下反射镜、上透镜和下透镜,其中,所述第一上反射镜和第一下反射镜关于水平对称面对称设置,所述第二上反射镜和第二下反射镜关于所述水平对称面对称设置,所述上透镜和下透镜关于所述水平对称面对称设置并且两者均为凸透镜,所述分束镜平行于所述水平对称面设置;所述激光器用于发射单束激光至所述分束镜上;所述分束镜用于使激光器发射的单束激光发生反射形成第一反射光线以及透射形成透射光线,并且所述第一反射光线与透射光线相对于所述水平对称面对称;所述第一下反射镜用于对第一反射光线进行反射,并使反射形成的第二反射光线竖直照射到被测物的下表面形成第一下光斑;所述第一下光斑漫反射后的光线经过所述下透镜聚集后照射在所述第二下反射镜上,并且又经所述第二下反射镜反射后照射在所述感光元件上形成第二下光斑;所述第一上反射镜用于对所述透射光线进行反射,并使反射形成的第三反射光线竖直照射到被测物的上表面形成第一上光斑;所述第三反射光线与所述第二反射光线在同一条直线上;所述第一上光斑漫反射后的光线经过所述上透镜聚集后照射在所述第二上反射镜上,并又经过所述第二上反射镜反射后照射在所述感光元件上形成第二上光斑;所述感光元件上的第二上光斑和第二下光斑的位置信息通过光电转换器传送给计算机处理,从而通过预先标定的位置信息获得被测物的厚度。
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