发明名称 校准方法和校准装置
摘要 本发明涉及一种针对用于测试RF待测设备的RF测试装置的校准方法和校准装置。取而代之,提供了校准主板并将其连接到RF测试装置的线缆中的每一个。校准主板配置为通过将测试装置的输入/输出通道端子彼此逐个相连,来提供多个连接回路。这得到不同连接回路的组。然后,针对这些连接回路中的每一个测量物理参数,诸如随着频率的衰减。由于可以通过单个方程描述每个物理参数,这得到构成方程组的多个不同方程。本发明的构思在于这种方程组中方程的数目至少等于或大于方程组中未知参数的数目,其中方程组中方程的数目与不同连接回路相对应。因此,所述方程组是超定的,因而在数学上可解。
申请公布号 CN106199475A 申请公布日期 2016.12.07
申请号 CN201510266746.1 申请日期 2015.05.22
申请人 罗德施瓦兹两合股份有限公司 发明人 拉尔夫·布劳曼;托马斯·卢兹;延斯·沃克曼;弗朗兹·欧伯马利
分类号 G01R35/00(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 杨静
主权项 一种针对用于测试RF待测设备DUT的RF测试装置的校准方法,所述方法包括:提供具有多个通道端子的RF测试装置、具有多个主板端子的校准主板以及第一数目个线缆,其中所述线缆中的每一个的第一端连接到RF测试装置的通道端子之一,并且第二端连接到校准主板的主板端子之一,所述校准主板包括由第二数目个连接构成的内部配线,以便在RF测试装置的通道端子之间提供第二数目个连接回路,其中所述第二数目大于或等于所述第一数目;建立由第二数目个数学方程构成的方程组,用于针对第二数目个连接回路中的每一个计算衰减;针对第二数目个连接回路中的每一个测量衰减;针对校准主板上的第二数目个连接中的每一个测量衰减;通过对方程组求解来确定第一数目个线缆衰减;基于所确定的线缆衰减,在针对与RF测试装置的对应通道端子相连的每一单独线缆开始测试过程之前,提供路径校正。
地址 德国慕尼黑