发明名称 |
半导体存储器设备、存储器系统及错误校正的方法 |
摘要 |
公开了半导体存储器设备、存储器系统及错误校正的方法。半导体存储器设备能够在半导体存储器设备外部检测半导体存储器设备中生成的误校正比特。所述半导体存储器设备可以基于从外部接收到的第一数据生成第一检查比特;将包括第一数据和第一检查比特的纠错码(ECC)码字划分到多个ECC码字组;以及将由包括在第一ECC码字组中的错误比特所引起的误校正比特布置在另一ECC码字组中而不是第一ECC码字组中。 |
申请公布号 |
CN106205663A |
申请公布日期 |
2016.12.07 |
申请号 |
CN201610381950.2 |
申请日期 |
2016.06.01 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
车相彦;郑会柱;姜郁成;朴哲佑 |
分类号 |
G11C7/10(2006.01)I;G11C29/56(2006.01)I |
主分类号 |
G11C7/10(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
邵亚丽;贾洪菠 |
主权项 |
一种校正包括存储单元阵列的半导体存储器设备中的错误的方法,该存储单元阵列包括多个存储单元组,每个存储单元组包括多个存储单元,所述方法包括:从半导体存储器设备外部接收第一数据;基于第一数据生成第一检验比特以使得误校正比特被布置在另一纠错码(ECC)码字组而不是第一ECC码字组中,所述误校正比特由包括在第一ECC码字组中的错误比特所引起;以及将包括多个ECC码字组的ECC码字存储在所述多个存储单元组中,所述多个ECC码字组中的每一个具有第一数据和第一检验比特。 |
地址 |
韩国京畿道 |