发明名称 一种高频电流法局部放电检测仪的考核校验装置及方法
摘要 本发明公开了一种高频电流法局部放电检测仪的考核校验装置及方法,该装置包括信号激励源、匹配电阻R<sub>0</sub>、注入电容C<sub>0</sub>、第一金属测试杆、第二金属测试杆、示波器、50Ω同轴电缆,被测仪器包括局放检测仪和高频传感器;所述的信号激励源为装置内置信号源,分为正弦波信号源和脉冲标定源;所述的匹配电阻R<sub>0</sub>串接正弦波信号源和第一金属测试杆组合形成正弦信号回路;所述的注入电容C0串接脉冲标定源和第二金属测试杆组合形成脉冲信号回路;本发明容易实现、调试简单快速、测试过程方便快捷,本发明并能自由选择内置信号源与外置信号源进行信号输入,适用于电力检测行业中高频局部放电检测仪的例行维护、测试、校验等场合。
申请公布号 CN106199478A 申请公布日期 2016.12.07
申请号 CN201610526324.8 申请日期 2016.06.30
申请人 杭州西湖电子研究所 发明人 陈伟中;楼狄;张武波;曹超;刘凤琳;陈云鹏;杜合;胡志鹏;厉洋;叶新林;王光祥
分类号 G01R35/00(2006.01)I 主分类号 G01R35/00(2006.01)I
代理机构 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 代理人 杜军
主权项 一种基于高频电流法局部放电检测仪的考核校验装置,其特征在于:所述的装置包括信号激励源、匹配电阻R<sub>0</sub>、注入电容C<sub>0</sub>、第一金属测试杆、第二金属测试杆、示波器、50Ω同轴电缆;被测仪器包括局放检测仪和高频传感器;所述的信号激励源为装置内置信号源,分为正弦波信号源和脉冲标定源;所述的匹配电阻R<sub>0</sub>串接正弦波信号源和第一金属测试杆组合形成正弦信号回路;所述的注入电容C<sub>0</sub>串接脉冲标定源和第二金属测试杆组合形成脉冲信号回路;所述的两根金属测试杆用作传输高频电流信号;所述的高频传感器穿心套入金属测试杆,高频传感器输出端连接至示波器或局放检测仪;示波器高阻电压探头与所述的匹配电阻两端连接,高频传感器与局放检测仪连接采用50Ω同轴电缆。
地址 311121 浙江省杭州市余杭区仓前街道龙潭路22号1幢4楼