| 发明名称 | 一种米级尺度多光轴平行检测装置及检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种米级尺度多光轴平行检测装置及检测方法，其包括第一校准部、第二校准部、第三校准部、第一平移机构和控制系统，所述第一校准部包括自准直仪一、固定基准和第一支撑平台，所述自准直仪一和固定基准依次安装在所述第一支撑平台上，所述第二校准部和第三校准部安装在所述第一平移机构上，所述第二校准部和第三校准部与控制系统连接，本发明装置满足多光轴平行性检测需求，采用该检测方法进行多光轴平行性检测，检测区域可达数米见方，检测过程实现自动化。 | ||
| 申请公布号 | CN106197950A | 申请公布日期 | 2016.12.07 |
| 申请号 | CN201610569127.4 | 申请日期 | 2016.07.19 |
| 申请人 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 发明人 | 曹庭分;陈海平;熊召;袁晓东;刘长春;叶海仙;易聪之;罗欢;全旭松;魏春蓉;周海;王晓红;郑万国 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人 | 刘洪勋 |
| 主权项 | 一种米级尺度多光轴平行检测装置，其特征在于：其包括第一校准部、第二校准部、第三校准部、第一平移机构和控制系统，所述第二校准部和第三校准部安装在所述第一平移机构上，所述第二校准部和第三校准部与控制系统连接；第一校准部发出的光轴一垂直于第二校准部发出的光轴二，第二校准部发出的光轴二垂直于第三校准部发出的光轴三。 | ||
| 地址 | 621900 四川省绵阳市绵山路64号 | ||