发明名称 |
一种结构光三维扫描测量装置与方法 |
摘要 |
本发明公开了一种结构光三维扫描测量装置与方法,其中,该装置包括光学投射器,光学投射器设置于下述投射框架上,光学投射器可输出投射光,光学投射器的出光方向正对下述反射镜的反射面,光学投射器的出光方向固定;反射镜,反射镜设置于下述投射框架上,反射镜包括一反射面,光学投射器的投射光斜交于反射镜的反射面,反射镜的反射面将光学投射器的投射光反射到测量目标的表面;投射框架,投射框架设置于测量目标远处,投射框架上固定连接光学投射器与反射镜,投射框架到测量目标的距离已知;测量目标,测量目标接收反射镜反射的投射光并进行漫反射。 |
申请公布号 |
CN106197307A |
申请公布日期 |
2016.12.07 |
申请号 |
CN201510282830.2 |
申请日期 |
2015.05.28 |
申请人 |
长沙维纳斯克信息技术有限公司 |
发明人 |
欧建良;王兵海;邓庆华;徐玉华;刘海军;孙焱;潘胜强;曾琳琳 |
分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/24(2006.01)I |
代理机构 |
北京风雅颂专利代理有限公司 11403 |
代理人 |
姚文新;陈宙 |
主权项 |
一种结构光三维扫描测量装置,其特征在于,包括:光学投射器,所述光学投射器设置于下述投射框架上,所述光学投射器可输出投射光,所述光学投射器的出光方向正对下述反射镜的反射面,所述光学投射器的出光方向固定;反射镜,所述反射镜设置于下述投射框架上,所述反射镜包括一反射面,所述光学投射器的投射光斜交于所述反射镜的反射面,所述反射镜的反射面将所述光学投射器的投射光反射到所述测量目标的表面;投射框架,所述投射框架设置于测量目标远处,所述投射框架上固定连接所述光学投射器与反射镜,所述投射框架到所述测量目标的距离已知;测量目标,所述测量目标接收所述反射镜反射的投射光并进行漫反射;光接收器,所述光接收器设置于测量目标远处,所述光接收器与所述投射框架之间具有一定距离,所述光接收器采集所述测量目标上的投射光,并将所述投射光的形态信号传送给下述三维点云提取装置;三维点云提取装置,所述三维点云提取装置从所述光接收器采集的投射光的形态信号,所述三维点云提取装置从所述投射光的形态信号中提取三维点云,并拼接拟合出所述测量目标的三维形貌。 |
地址 |
410000 湖南省长沙市岳麓区橘子洲街道杜家塘15号国际艺术区3-1栋一楼 |