发明名称 发光二极管的制备方法
摘要 本发明涉及一种发光二极管的制备方法,其包括以下步骤:提供一基底;在基底依次外延生长一有源层,该有源层包括缓冲层、一第一半导体层、一活性层以及一第二半导体层;形成一第三光学对称层于所述第二半导体层远离基底的表面;形成一金属层于所述第三光学对称层远离基底的表面;形成一第四光学对称层于所述金属层远离基底的表面;形成一第一光学对称层于第四光学对称层远离基底的表面,该第一光学对称层的折射率n<sub>1</sub>与缓冲层和有源层的整体的等效折射率n<sub>2</sub>的差值∆n<sub>1</sub>于等于0.3,其中∆n<sub>1</sub>=|n<sub>1</sub>‑n<sub>2</sub>|;去除所述基底,暴露出第一半导体层;以及在第一半导体层暴露的表面制备一第一电极,制备一第二电极与第二半导体层电连接。
申请公布号 CN103474519B 申请公布日期 2016.12.07
申请号 CN201210185665.5 申请日期 2012.06.07
申请人 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 发明人 张淏酥;朱钧;李群庆;金国藩;范守善
分类号 H01L33/00(2010.01)I;H01L33/10(2010.01)I 主分类号 H01L33/00(2010.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种发光二极管的制备方法,其包括以下步骤:步骤a:提供一基底,该基底具有一外延生长面;步骤b:在基底的外延生长面依次外延生长一缓冲层、一有源层,该有源层包括一第一半导体层、一活性层以及一第二半导体层;步骤c:形成一第三光学对称层于所述第二半导体层远离基底的表面,所述第三光学对称层的折射率的范围为1.2至1.5;步骤d:形成一金属层于所述第三光学对称层远离基底的表面;步骤e:形成一第四光学对称层于所述金属层远离基底的表面,所述第四光学对称层的折射率的范围为1.2至1.5;步骤f:形成一第一光学对称层于所述第四光学对称层远离基底的表面,该第一光学对称层的折射率n<sub>1</sub>与所述缓冲层和有源层的整体的等效折射率n<sub>2</sub>的差值Δn<sub>1</sub>于等于0.3,其中Δn<sub>1</sub>=|n<sub>1</sub>‑n<sub>2</sub>|;步骤g:去除所述基底,暴露出所述第一半导体层;以及步骤h:在第一半导体层暴露的表面制备一第一电极,制备一第二电极与第二半导体层电连接。
地址 100084 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室