发明名称 | 存储器、包括该存储器的半导体器件及其测试方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种存储器,包括第一存储单元、第二存储单元、锁存单元和开关单元。锁存单元具有标准节点和互补节点。开关单元响应于第一控制信号和第二控制信号,并且开关单元被配置为:响应于第一控制信号,将第一存储单元连接至标准节点并将第二存储单元与互补节点的连接断开;响应于第二控制信号,将第二存储单元连接至互补节点并将第一存储单元与标准节点的连接断开。本发明也公开了一种包括该存储器的半导体器件。本发明还公开了一种测试该存储器的方法。 | ||
申请公布号 | CN106205734A | 申请公布日期 | 2016.12.07 |
申请号 | CN201510367128.6 | 申请日期 | 2015.06.29 |
申请人 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 发明人 | 郭政雄;李谷桓;王志诚;陈中杰 |
分类号 | G11C29/50(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/50(2006.01)I |
代理机构 | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人 | 章社杲;李伟 |
主权项 | 一种存储器,包括:第一存储单元;第二存储单元;锁存单元,具有标准节点和互补节点;以及开关单元,响应于第一控制信号和第二控制信号,并且所述开关单元被配置为:响应于所述第一控制信号,将所述第一存储单元连接至所述标准节点并将所述第二存储单元与所述互补节点的连接断开;响应于所述第二控制信号,将所述第二存储单元连接至所述互补节点并将所述第一控制单元与所述标准节点的连接断开。 | ||
地址 | 中国台湾新竹 |