| 发明名称 | QFN塑封异常叉印治具 | ||
| 摘要 | 本实用新型QFN塑封异常叉印治具涉及一种标记QFN BLOCK中不良品的工具。其目的是为了提供一种能够方便、快速、准确标记QFN BLOCK中不良或异常IC位置的QFN塑封异常叉印治具。本实用新型QFN塑封异常叉印治具包括底座(1)和上盖(3)，所述底座和上盖能够通过定位件组装在一起，所述上盖为板状结构，其上开设有多个通孔(5)，所述通孔为矩形阵列布置。 | ||
| 申请公布号 | CN205789877U | 申请公布日期 | 2016.12.07 |
| 申请号 | CN201620507735.8 | 申请日期 | 2016.05.30 |
| 申请人 | 北京首钢微电子有限公司 | 发明人 | 姚准策 |
| 分类号 | H01L21/66(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I;H01L21/68(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/66(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人 | 马苗苗 |
| 主权项 | 一种QFN塑封异常叉印治具，其特征在于：包括底座(1)和上盖(3)，所述底座(1)和上盖(3)能够通过定位件组装在一起，所述上盖(3)为板状结构，其上开设有多个通孔(5)，所述通孔(5)为矩形阵列布置。 | ||
| 地址 | 100144 北京市石景山区八大处路45号 | ||