发明名称 Method ofmanufacturing nitride semiconductor substrates by using cleavage property of material
摘要 본 발명은 벽개 특성을 이용한 질화물 반도체 기판 제조 방법으로서, 격자상수 및 열팽창 계수가 적으며 물리적으로 벽개 특성을 갖는 SCAM 기판을 베이스 기판으로 사용하여 상부에 질화물 반도체층을 성장시키고, 반응기의 온도를 상온으로 냉각시켜 온도 하강 중 SCAM 기판의 벽개 특성으로 인해 SCAM 기판이 자연 분리됨으로써 질화물 반도체 기판을 생산하는 방안을 제시한다.
申请公布号 KR20160136581(A) 申请公布日期 2016.11.30
申请号 KR20150070245 申请日期 2015.05.20
申请人 LUMISTAL CO., LTD. 发明人 LEE, HYUN JAE
分类号 H01L21/02;H01L21/324 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
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