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发明名称
欠陥検査装置、及び欠陥検査方法
摘要
【課題】欠陥全体の2次元画像を取得することなく、欠陥の特徴量を求めることを可能にする欠陥検出装置、及び欠陥検査方法を提供する。【解決手段】欠陥検査装置は、検査対象物の画像を読み取るラインセンサと、前記ラインセンサから入力されたデータを2値化する2値化部と、前記2値化部により2値化されたデータをランレングス符号化するランレングス符号化部と、前記ランレングス符号を連結性処理することにより、欠陥の特徴量を測定する連結性処理部と、を有する。【選択図】図1
申请公布号
JP6035375(B1)
申请公布日期
2016.11.30
申请号
JP20150112327
申请日期
2015.06.02
申请人
株式会社メック
发明人
布施 正樹
分类号
G01N21/88;G01B11/02;G01N21/892
主分类号
G01N21/88
代理机构
代理人
主权项
地址
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