发明名称 |
半导体装置的制造方法及半导体装置 |
摘要 |
包括下述工序:分别准备半导体元件(1)、至少表面的主要元素为Cu的基板(2)、形状比所述半导体元件小的ZnAl共晶焊料片(3’);以各自的接合面彼此相对的方式配置所述半导体元件和所述基板,在该基板和半导体元件之间夹设所述ZnAl共晶焊料片;一边对夹设在所述基板和所述半导体元件之间的所述ZnAl共晶焊料片施加载荷(31),一边进行升温,使所述ZnAl共晶焊料片融解而形成ZnAl焊料层;以及一边对所述ZnAl焊料层施加载荷一边进行降温。 |
申请公布号 |
CN103733321B |
申请公布日期 |
2016.11.30 |
申请号 |
CN201280037004.6 |
申请日期 |
2012.07.27 |
申请人 |
日产自动车株式会社;住友金属矿山株式会社;三垦电气株式会社;富士电机株式会社 |
发明人 |
谷本智;图子祐辅;村上善则;井关隆士;高森雅人;佐藤伸二;松井康平 |
分类号 |
H01L21/52(2006.01)I;B23K35/28(2006.01)I;C22C18/04(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/52(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
何立波;张天舒 |
主权项 |
一种半导体装置的制造方法,其中,包括下述工序:分别准备半导体元件、至少表面的主要元素为Cu的基板、形状比所述半导体元件小的ZnAl共晶焊料片;以各自的接合面彼此相对的方式配置所述半导体元件和所述基板,在该基板和半导体元件之间夹设所述ZnAl共晶焊料片;一边对夹设在所述基板和所述半导体元件之间的所述ZnAl共晶焊料片施加载荷一边进行升温,使所述ZnAl共晶焊料片融解而形成ZnAl焊料层;以及一边对所述ZnAl焊料层施加载荷一边进行降温,使共晶相组织在所述ZnAl焊料层整体中所占的含有率,比共晶相组织在所述ZnAl焊料片中所占的含有率少,所述降温的工序,包含在刚好低于所述ZnAl焊料层的共析温度的温度下保温或逐渐冷却的工序。 |
地址 |
日本神奈川县 |