发明名称 半导体装置的制造方法及半导体装置
摘要 包括下述工序:分别准备半导体元件(1)、至少表面的主要元素为Cu的基板(2)、形状比所述半导体元件小的ZnAl共晶焊料片(3’);以各自的接合面彼此相对的方式配置所述半导体元件和所述基板,在该基板和半导体元件之间夹设所述ZnAl共晶焊料片;一边对夹设在所述基板和所述半导体元件之间的所述ZnAl共晶焊料片施加载荷(31),一边进行升温,使所述ZnAl共晶焊料片融解而形成ZnAl焊料层;以及一边对所述ZnAl焊料层施加载荷一边进行降温。
申请公布号 CN103733321B 申请公布日期 2016.11.30
申请号 CN201280037004.6 申请日期 2012.07.27
申请人 日产自动车株式会社;住友金属矿山株式会社;三垦电气株式会社;富士电机株式会社 发明人 谷本智;图子祐辅;村上善则;井关隆士;高森雅人;佐藤伸二;松井康平
分类号 H01L21/52(2006.01)I;B23K35/28(2006.01)I;C22C18/04(2006.01)I 主分类号 H01L21/52(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 何立波;张天舒
主权项 一种半导体装置的制造方法,其中,包括下述工序:分别准备半导体元件、至少表面的主要元素为Cu的基板、形状比所述半导体元件小的ZnAl共晶焊料片;以各自的接合面彼此相对的方式配置所述半导体元件和所述基板,在该基板和半导体元件之间夹设所述ZnAl共晶焊料片;一边对夹设在所述基板和所述半导体元件之间的所述ZnAl共晶焊料片施加载荷一边进行升温,使所述ZnAl共晶焊料片融解而形成ZnAl焊料层;以及一边对所述ZnAl焊料层施加载荷一边进行降温,使共晶相组织在所述ZnAl焊料层整体中所占的含有率,比共晶相组织在所述ZnAl焊料片中所占的含有率少,所述降温的工序,包含在刚好低于所述ZnAl焊料层的共析温度的温度下保温或逐渐冷却的工序。
地址 日本神奈川县