发明名称 物体在力热磁电多场作用下折射率变化测量装置及方法
摘要 物体在力热磁电多场作用下折射率变化测量装置及方法,涉及材料科学、光学实验技术领域。该装置包括背景散斑、力热磁电加载平台、抽真空试验箱、CCD相机及含有计算程序的计算机。该方法利用物体在力热磁电多场作用下折射率变化测量装置,将被测物体置于力热磁电加载平台上,加力加载、加热、加磁场和电场,在加载前后用CCD相机透过物体拍摄背景散斑,将拍摄图像输入计算机用数字图像相关算法(DIC)计算得到背景散斑的位移场,通过计算可以得到物体的折射率变化分布。本发明结构紧凑,易于实现,可对物体受力、加热和外加电磁场作用下的折射率变化作实时在线、全场分布测量。
申请公布号 CN103698299B 申请公布日期 2016.11.30
申请号 CN201310610863.6 申请日期 2013.11.26
申请人 清华大学 发明人 冯雪;张长兴;屈哲
分类号 G01N21/41(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01N21/41(2006.01)I
代理机构 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人 邸更岩
主权项 物体在力热磁电多场作用下折射率变化测量方法,其特征在于:该方法采用的装置包括抽真空试验箱(1)、力热磁电加载平台(2)、背景散斑(3)、照明光源(4)、CCD相机(5)及含有计算程序的计算机(6);被测物体(7)置于力热磁电加载平台(2)上,所述的力热磁电加载平台(2)、背景散斑(3)、照明光源(4)置于抽真空试验箱内,抽真空试验箱上方开有观察窗(1a),力热磁电加载平台设置在观察窗和背景散斑之间,CCD相机对准观察窗并通过数据线与计算机相连;所述的背景散斑是人工生成的随机图像,所述的被测物体为透明物体;所述方法包括如下步骤:a).将被测物体(7)置于力热磁电加载平台上夹持固定,设定CCD相机与被测物体距离为L,被测物体与背景散斑距离为D,被测物体厚度为B,垂直于厚度方向截面积为S,常温下的折射率为n<sub>o</sub>,CCD相机透过被测物体拍摄加载前背景散斑;b).用力热磁电加载平台(2)对被测物体分别施加力、热、磁场、电场或同时施加所述几种加载方式,并记录加载状态应力σ、温度T、磁场强度H、电场强度E,用CCD相机透过被测物体拍摄加载后背景散斑;c).将加载前后的背景散斑图输入计算机(6),用数字图像相关方法计算加载前后拍摄的背景散斑位移场(ΔX<sub>O</sub>,ΔY<sub>O</sub>),其中被测物体表面记为OXY平面,背景散斑平面记为O<sub>o</sub>X<sub>o</sub>Y<sub>o</sub>平面,光线沿被测物体厚度方向垂直物体平面透过被测物体,其中ΔX<sub>O</sub>、ΔY<sub>O</sub>分别为相机记录加载前后散斑X、Y方向位移,φ<sub>x</sub>、φ<sub>y</sub>分别为光线沿被测物体厚度方向垂直物体表面透过被测物体后的沿X、Y方向偏折角,φ<sub>x</sub>、φ<sub>y</sub>由下式计算:<maths num="0001"><math><![CDATA[<mfenced open = "{" close = ""><mtable><mtr><mtd><msub><mi>&phi;</mi><mi>x</mi></msub><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>&Delta;X</mi><mi>O</mi></msub></mrow><mi>D</mi></mfrac></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>&phi;</mi><mi>y</mi></msub><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>&Delta;Y</mi><mi>O</mi></msub></mrow><mi>D</mi></mfrac></mtd></mtr></mtable></mfenced>]]></math><img file="FDA0000974497130000011.GIF" wi="261" he="334" /></maths>被测物体表面在OXY内坐标(x,y)同背景散斑在O<sub>o</sub>X<sub>o</sub>Y<sub>o</sub>内坐标(x<sub>O</sub>,y<sub>O</sub>)有如下关系:<maths num="0002"><math><![CDATA[<mfenced open = "{" close = ""><mtable><mtr><mtd><mi>x</mi><mo>=</mo><mfrac><mi>L</mi><mrow><mi>L</mi><mo>+</mo><mi>D</mi></mrow></mfrac><msub><mi>x</mi><mi>O</mi></msub></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mi>y</mi><mo>=</mo><mfrac><mi>L</mi><mrow><mi>L</mi><mo>+</mo><mi>D</mi></mrow></mfrac><msub><mi>y</mi><mi>O</mi></msub></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced>]]></math><img file="FDA0000974497130000021.GIF" wi="348" he="330" /></maths>d).物体加载后折射率变化值Δn的全场分布由下式计算:<maths num="0003"><math><![CDATA[<mrow><mi>&Delta;</mi><mi>n</mi><mrow><mo>(</mo><mi>x</mi><mo>,</mo><mi>y</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mfrac><mi>L</mi><mrow><mo>(</mo><mi>L</mi><mo>+</mo><mi>D</mi><mo>)</mo><mi>B</mi><mi>D</mi></mrow></mfrac><mo>&CenterDot;</mo><mrow><mo>(</mo><msubsup><mo>&Integral;</mo><mn>0</mn><mrow><mfrac><mrow><mi>L</mi><mo>+</mo><mi>D</mi></mrow><mi>L</mi></mfrac><mi>x</mi></mrow></msubsup><mrow><msub><mi>&Delta;X</mi><mi>O</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mrow><mi>u</mi><mo>,</mo><mi>y</mi></mrow><mo>)</mo></mrow><mi>d</mi><mi>u</mi></mrow><mo>+</mo><msubsup><mo>&Integral;</mo><mn>0</mn><mrow><mfrac><mrow><mi>L</mi><mo>+</mo><mi>D</mi></mrow><mi>L</mi></mfrac><mi>y</mi></mrow></msubsup><mrow><mo>(</mo><mrow><msub><mi>&Delta;Y</mi><mi>O</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mrow><mi>x</mi><mo>,</mo><mi>v</mi></mrow><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mfrac><mrow><mo>&part;</mo><msubsup><mo>&Integral;</mo><mn>0</mn><mrow><mfrac><mrow><mi>L</mi><mo>+</mo><mi>D</mi></mrow><mi>L</mi></mfrac><mi>x</mi></mrow></msubsup><msub><mi>&Delta;X</mi><mi>O</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mi>u</mi><mo>,</mo><mi>v</mi><mo>)</mo></mrow><mi>d</mi><mi>u</mi></mrow><mrow><mo>&part;</mo><mi>v</mi></mrow></mfrac></mrow><mo>)</mo></mrow><mi>d</mi><mi>v</mi><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FDA0000974497130000022.GIF" wi="1933" he="198" /></maths>其中<img file="FDA0000974497130000023.GIF" wi="450" he="133" />为位移ΔX<sub>O</sub>沿x方向线积分,<img file="FDA0000974497130000024.GIF" wi="429" he="127" />为位移ΔY<sub>O</sub>沿y方向线积分,被测物体面内折射率n如下式示:n=n<sub>o</sub>+Δn(x,y)被测物体面内平均折射率<img file="FDA0000974497130000025.GIF" wi="44" he="52" />由下式计算:<maths num="0004"><math><![CDATA[<mrow><mover><mi>n</mi><mo>&OverBar;</mo></mover><mo>=</mo><mfrac><mrow><mo>&Integral;</mo><mi>n</mi><mrow><mo>(</mo><mi>x</mi><mo>,</mo><mi>y</mi><mo>)</mo></mrow><mi>d</mi><mi>S</mi></mrow><mi>S</mi></mfrac></mrow>]]></math><img file="FDA0000974497130000026.GIF" wi="379" he="163" /></maths>其中∫n(x,y)dS为折射率n对被测物体垂直于厚度方向截面积S的面积分;e).改变力热磁电加载平台的加载状态,多次重复b)~d)步骤,获得光线透过被测物体后的偏折角(φ<sub>x</sub>,φ<sub>y</sub>),计算得到被测物体面内平均折射率<img file="FDA0000974497130000027.GIF" wi="68" he="55" />记录加载应力σ、温度T、磁场强度H、电场强度E,这样得到多个状态下被测物体面内平均折射率<img file="FDA0000974497130000028.GIF" wi="69" he="54" />加载应力σ、温度T、磁场强度H、电场强度E,通过拟合得到物体面内平均折射率<img file="FDA0000974497130000029.GIF" wi="42" he="53" />同应力σ、温度T、磁场强度H、电场强度E影响变化关系式:<maths num="0005"><math><![CDATA[<mrow><mover><mi>n</mi><mo>&OverBar;</mo></mover><mo>=</mo><mover><mi>n</mi><mo>&OverBar;</mo></mover><mrow><mo>(</mo><mi>&sigma;</mi><mo>,</mo><mi>T</mi><mo>,</mo><mi>H</mi><mo>,</mo><mi>E</mi><mo>)</mo></mrow><mo>.</mo></mrow>]]></math><img file="FDA00009744971300000210.GIF" wi="494" he="79" /></maths>
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