| 发明名称 | 测量液晶层盒厚与预倾角的方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种测量液晶层盒厚与预倾角的方法，包括以下步骤：步骤1、在阵列基板(1)与彩膜基板(3)上分别相应定义有效显示区域(5)及位于有效显示区域(5)外围的数个测量区域(7)，于有效显示区域(5)与测量区域(7)分别制作一致的图案；步骤2、将阵列与彩膜基板(1、3)对应有效显示区域(5)与测量区域(7)分别涂上胶框和滴入液晶；步骤3、将阵列与彩膜基板(1、3)完成对组、烘烤、配向制程；步骤4、对有效显示区域(5)与测量区域(7)分别进行液晶层盒厚与预倾角的测量，并对测量数据进行处理。该方法能够较准确的测量液晶层的盒厚与预倾角，对盒厚与预倾角进行有效监控，保证产品品质。 | ||
| 申请公布号 | CN104166254B | 申请公布日期 | 2016.11.30 |
| 申请号 | CN201410415863.5 | 申请日期 | 2014.08.20 |
| 申请人 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 发明人 | 谢克成 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;G01B11/26(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人 | 林才桂 |
| 主权项 | 一种测量液晶层盒厚与预倾角的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、在阵列基板(1)与彩膜基板(3)上分别相应定义有效显示区域(5)及位于有效显示区域(5)外围的数个测量区域(7)，于有效显示区域(5)与测量区域(7)分别制作一致的图案；步骤2、将形成图案的阵列与彩膜基板(1、3)对应有效显示区域(5)与测量区域(7)分别涂上胶框和滴入液晶；步骤3、将涂有胶框和滴有液晶的阵列与彩膜基板(1、3)完成对组、烘烤、配向制程；步骤4、对有效显示区域(5)与测量区域(7)分别进行液晶层盒厚与预倾角的测量，并对测量数据进行处理。 | ||
| 地址 | 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号 | ||