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Es wird ein Verfahren (100) zur Untersuchung und Bearbeitung einer auf einem Objektträger (50) angeordneten mikroskopischen Probe (52) mit einer Abbildungsvorrichtung (20) und einem Lasermikrodissektionssystem (10) vorgeschlagen. Dabei erfolgt ein Erzeugen (101) von wenigstens zwei Referenzmarkierungen (51) auf dem Objektträger (50) mit dem Lasermikrodissektionssystem (10), ein Aufbringen (102) der Probe (52) auf denselben Objektträger (50), ein Erzeugen (103) eines digitalen Abbilds (40) der Probe (52) auf dem Objektträger (50) mit der Abbildungsvorrichtung (20), wobei das Abbild (40) auch die Referenzmarkierungen (51) umfasst, ein Festlegen (104) wenigstens eines Bildbereichs (41) des Abbilds (40) und ein Erzeugen von ersten Lageinformationsdaten, die die Lage des wenigstens einen Bildbereichs (41) in dem Abbild (40) angeben. Ferner erfolgt ein Identifizieren (105) der Referenzmarkierungen (51) in dem Abbild (40) und ein Erzeugen von zweiten Lageinformationsdaten, die die Lage der Referenzmarkierungen (51) in dem Abbild (40) angeben. Nach einem Bereitstellen (106) der ersten und der zweiten Lageinformationsdaten an das Lasermikrodissektionssystem (10) erfolgt dort ein Abbilden (107) des Objektträgers (50) mit der Probe (52) und den Referenzmarkierungen (51) und ein Identifizieren (108) der Referenzmarkierungen (51) sowie ein Erzeugen von dritten Lageinformationsdaten, die die Lage der Referenzmarkierungen (51) in dem Lasermikrodissektionssystem (10) angeben. Die ersten, zweiten und dritten Lageinformationsdaten werden korreliert und wenigstens ein Probenbereichs (53), der dem wenigstens einen Bildbereich (41) entspricht, wird mit dem Lasermikrodissektionssystem (10) bearbeitet. Mittel zur Implementierung des Verfahrens sind ebenfalls Gegenstand der Erfindung. |
