| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erfassung einer bestimmten Art von Oberflächenelementen (2-9) einer Objektoberfläche (1), insbesondere einer Gebäudeoberfläche, wobei verschiedene zweidimensionale Bildaufnahmen (13, 14) der Objektoberfläche (1) in digitaler Form und ein digitales dreidimensionales Modell (15) der Objektoberfläche (1) vorhanden sind. Dabei werden mehrere Verfahrensschritten durchgeführt, nämlich ein Markieren von möglichen Oberflächenelementen in jeder zweidimensionalen Bildaufnahme (13, 14) mittels eines für die bestimmte Art von Oberflächenelementen (2-9) trainierten Detektors, ein Transferieren der Markierungsergebnisse (16-25) jeder zweidimensionalen Bildaufnahme (13, 14) in das dreidimensionale Modell (15) der Objektoberfläche (1) und ein Auswerten der transferierten Markierungsergebnisse (26-35) im dreidimensionalen Raum anhand zumindest eines festgelegten Abgleichkriteriums, um Oberflächenelemente (36-41) zu lokalisieren. Somit erfolgt die Erfassung von Oberflächenelementen (2-9) in zweidimensionalen Bildern (13, 14) in einfacher Weise unter Zuhilfenahme der dreidimensionalen Information aus dem Modell (15) der Objektoberfläche (1). |
