| 发明名称 | 半导体综合测试仪（F260） | ||
| 摘要 | 1．本外观设计产品的名称：半导体综合测试仪（F260）；2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于分析多通道无源光器件的损耗性能，可以准确迅速地得到PLC（电阻电感电容）的损耗；3．本外观设计产品的设计要点：产品的形状；4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。 | ||
| 申请公布号 | CN303928142S | 申请公布日期 | 2016.11.23 |
| 申请号 | CN201630122283.7 | 申请日期 | 2016.04.13 |
| 申请人 | 一诺仪器（中国）有限公司 | 发明人 | 赵阳日 |
| 分类号 | 10-05(10) | 主分类号 | 10-05(10) |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | |||
| 地址 | 264200 山东省威海市高技区天津路190号院内 | ||