发明名称 |
振荡器自动校准装置及其校准方法 |
摘要 |
本发明揭示了一种振荡器自动校准装置,包括振荡器单元,所述振荡器单元输出一振荡信号;检测单元,所述检测单元接收一比较信号和所述振荡信号,通过比较所述比较信号和所述振荡信号,得到一对比信号,并输出所述对比信号;检索单元,所述检索单元具有一标准对比信号与校准控制字关系对照表,当所述检索单元接收到所述对比信号时,所述检索单元查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表,得到一校准控制字,并输出所述校准控制字给所述振荡器单元,使所述振荡信号得到校准。本发明还揭示了该装置的自动校准方法。本发明的振荡器自动校准装置能够高效率地校准振荡器的频率。 |
申请公布号 |
CN103873056B |
申请公布日期 |
2016.11.23 |
申请号 |
CN201210526391.1 |
申请日期 |
2012.12.07 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
郑晓;余振强;杨家奇;史丹宁 |
分类号 |
H03L7/24(2006.01)I |
主分类号 |
H03L7/24(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
一种振荡器自动校准装置,包括:振荡器单元,所述振荡器单元输出振荡信号,所述振荡信号具有参考状态和待校准状态;检测单元,所述检测单元接收一比较信号和所述振荡信号,通过比较所述比较信号和所述振荡信号,得到一对比信号,并输出所述对比信号,当所述振荡信号为参考状态时,所述对比信号为参考状态,当所述振荡信号为待校准状态时,所述对比信号为待校准状态;自动校准单元,当所述振荡信号为待校准状态时,所述自动校准单元接收所述对比信号,输出一校准控制字,所述振荡器单元接收所述校准控制字;检索单元,当所述对比信号为参考状态时,所述检索单元接收所述校准控制字与所述对比信号,并建立一标准对比信号与校准控制字关系对照表;当所述对比信号为待校准状态时,所述检索单元接收所述对比信号,查找所述标准对比信号与校准控制字关系对照表,得到所述校准控制字,并输出所述校准控制字给所述振荡器单元,使所述振荡信号得到校准。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |