发明名称 | 一种多磨头转台的回转中心找正方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种多磨头转台的回转中心找正方法。其特征在于找正过程如下:(1)将千分表固定在工件上,工件移动到加工原点位置,利用测头对转台的4个边沿进行测量,获得外切圆半径R,移动测头到待测磨头的支撑外圆端面上,记录读数,被测磨头回转中心的横向坐标值=移动的距离+R+读数;(2)转动工件,使测头绕支撑外圆周面转动一圈,移动待测磨头,使得测头转一圈千分表读数不变,则待测磨头的回转中心的纵向坐标值为系统显示的磨头纵向移动坐标值;(3)由此待测磨头的回转中心确定;(4)依上述方法依次确定剩余磨头的横向和纵向坐标值。本发明大大降低了安装制造的技术要求,也能够快速准确实现磨头的中心定位,提高加工精度和产品质量。 | ||
申请公布号 | CN104117913B | 申请公布日期 | 2016.11.23 |
申请号 | CN201410366192.8 | 申请日期 | 2014.07.29 |
申请人 | 浙江机电职业技术学院 | 发明人 | 张耀;黄文广 |
分类号 | B24B49/00(2012.01)I | 主分类号 | B24B49/00(2012.01)I |
代理机构 | 杭州赛科专利代理事务所(普通合伙) 33230 | 代理人 | 曹绍文 |
主权项 | 一种多磨头转台的回转中心找正方法,其特征在于所述的多磨头转台包括能左右移动的主转台,主转台上设置多个磨头,主转台通过旋转机构实现水平自由旋转,所述主转台的侧部设置能水平移动的工作台,所述的工作台上设置能使工件垂直旋转的支转台,支转台上设置工件;找正过程如下:(1)首先用千分表进行测量,将千分表固定在工件上,工件移动到加工原点位置,利用测头对主转台的4个边沿进行测量,获得理想轨迹即主转台的外切圆半径R,移动千分表横向移动,使得测头移动到待测磨头的支撑外圆端面上,记录读数,则被测磨头回转中心的横向坐标值=移动的距离+R+读数;(2)将千分表测头放置在被测磨头的支撑外圆周面上,转动工件,测头绕支撑外圆周面转动一圈,移动待测磨头沿纵向移动,使得测头转一圈千分表读数不变,则待测磨头的回转中心的纵向坐标值为当前系统显示的磨头纵向移动坐标值;(3)由此待测磨头的回转中心确定,加工时先沿横向和纵向移动至回转中心,再进行转动加工;(4)依上述方法依次确定待测磨头的回转中心的横向和纵向坐标值。 | ||
地址 | 310053 浙江省杭州市滨江区滨文路528号 |