发明名称 |
容器轮廓和缺陷轮廓的识别 |
摘要 |
本发明涉及一种用于测定填充材料(107)的体积或质量的方法,其中首先在不存在填充材料的情况下采取空轮廓检测模式,然后在存在填充材料的情况下采取体积或质量测定模式。在所述空轮廓检测模式中,从通过扫描容器表面获得的回波曲线生成缺陷轮廓。然后,在所述体积或质量测定模式中测定所述填充材料的体积或质量时考虑所述缺陷轮廓。这使得可以更精确地测定所述填充材料的体积或质量。 |
申请公布号 |
CN106164626A |
申请公布日期 |
2016.11.23 |
申请号 |
CN201480077943.2 |
申请日期 |
2014.06.03 |
申请人 |
VEGA格里沙贝两合公司 |
发明人 |
罗兰·韦勒 |
分类号 |
G01F17/00(2006.01)I;G01F23/284(2006.01)I;G01F23/296(2006.01)I |
主分类号 |
G01F17/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 |
代理人 |
王新春;曹正建 |
主权项 |
一种用于测定填充材料(107)的体积或质量的方法,包括以下步骤:在不存在填充材料的情况下采取空轮廓检测模式;在不同方向上向所述填充材料的表面发射传输信号;接收至少在所述填充材料的表面上被反射的传输信号;从被反射并且随后被接收的传输信号生成回波曲线,并且检测相关传输信号沿其反射的对应方向;从这些回波曲线测定干扰点轮廓,所述干扰点轮廓对应于干扰物体的位置;当存在填充材料时采取体积或质量测定模式;生成另一些回波曲线;从所述另一些回波曲线并考虑所述干扰点轮廓来测定所述填充材料的体积或质量。 |
地址 |
德国沃尔法赫 |