发明名称 |
显示面板的金属走线的寄生电容的量测方法 |
摘要 |
本发明涉及一种显示面板的金属走线的寄生电容的量测方法。该方法包括:步骤10、提供第一组电路版图,其包括测试部分及公共部分,该测试部分包含待量测的金属走线,该公共部分包含引线及与引线相连接的量测垫;步骤20、利用该第一组电路版图中的量测垫量测第一组寄生电容数据;步骤30、提供第二组电路版图,其仅包括该第一组电路版图中的公共部分;步骤40、利用该第二组电路版图中的量测垫量测第二组寄生电容数据;步骤50、将该第一组寄生电容数据与第二组寄生电容数据对应相减以得到对应的金属走线的寄生电容。本发明适用于LTPS面板的电容量测,能够量测出金属走线之间有效的侧向电容和交叠电容大小,为小尺寸产品设计提供很好的参考价值。 |
申请公布号 |
CN106154052A |
申请公布日期 |
2016.11.23 |
申请号 |
CN201610567180.0 |
申请日期 |
2016.07.18 |
申请人 |
武汉华星光电技术有限公司 |
发明人 |
赵莽;易士娟 |
分类号 |
G01R27/26(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/26(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市德力知识产权代理事务所 44265 |
代理人 |
林才桂 |
主权项 |
一种显示面板的金属走线的寄生电容的量测方法,其特征在于,包括:步骤10、提供第一组电路版图,其包括测试部分及公共部分,该测试部分包含待量测的金属走线,该公共部分包含引线及与引线相连接的量测垫;该引线及相连接的量测垫一一对应于该金属走线,该引线一端连接对应的金属走线,另一端连接相应的量测垫;步骤20、利用该第一组电路版图中的量测垫量测第一组寄生电容数据;步骤30、提供第二组电路版图,其仅包括该第一组电路版图中的公共部分;步骤40、利用该第二组电路版图中的量测垫量测第二组寄生电容数据;步骤50、将该第一组寄生电容数据与第二组寄生电容数据对应相减以得到对应的金属走线的寄生电容。 |
地址 |
430070 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 |