发明名称 一种激光测距仪校正方法
摘要 本发明提供了一种激光测距仪校正方法,该方法包括:将多个靶标依次设置在距离激光测距仪相同的预设位置处;其中,每个靶标对应的反射率均不相同;利用激光测距仪接收每个靶标反射的激光信号,并对反射的激光信号进行波形分析,得到波形分析后的幅度值和对应的测量距离值;对所有的测量距离值和所有的幅度值进行拟合的分析处理,得到对应的拟合函数关系;根据拟合函数关系对测量距离值进行校正,得到校正距离值,上述方法通过对测量距离值的拟合校正,最大限度的降低了由于反射率的不同所造成的幅相误差,从而提高了距离测量的精确度。
申请公布号 CN106154279A 申请公布日期 2016.11.23
申请号 CN201610587015.1 申请日期 2016.07.22
申请人 武汉海达数云技术有限公司 发明人 余建伟;符运强;翁国康;胡庆武;陈小宇;毛庆洲;刘守军;陆晓明;杨晶
分类号 G01S17/08(2006.01)I;G01S7/497(2006.01)I 主分类号 G01S17/08(2006.01)I
代理机构 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人 冯倩
主权项 一种激光测距仪校正方法,其特征在于,包括激光测距仪和多个靶标;所述方法包括:将多个所述靶标依次设置在距离所述激光测距仪相同的预设位置处;其中,每个靶标对应的反射率均不相同;利用所述激光测距仪接收每个所述靶标反射的激光信号,并对所述反射的激光信号进行波形分析,得到波形分析后的幅度值和对应的测量距离值;对所有的所述测量距离值和所有的所述幅度值进行拟合的分析处理,得到对应的拟合函数关系;根据所述拟合函数关系对所述测量距离值进行校正,得到校正距离值。
地址 430000 湖北省武汉市东湖开发区武汉大学科技园以南国家地球空间信息产业基地五期-武大慧园1#幢7层3、4、5号房