发明名称 一种基于GPIB总线的通用自动测试设备
摘要 本发明涉及一种基于GPIB总线的通用自动测试设备,包括计算机、处理器、接口适配器和被测设备,所述被测设备通过接口适配器连接测试仪器,每一所述测试仪器的一端均连接所述处理器,每一所述测试仪器的另一端连接接口适配器,所述处理器与计算机交互信息。本发明利用GPIB总线和测试仪器对通用设备的射频性能进行自动测试,使用方便,能提高通用设备的研发与生产的进度,系统形成后无需人为参于,可以节约更多的人力成本,为通用设备的性能指标的验证提供了很好的解决方案。
申请公布号 CN106160881A 申请公布日期 2016.11.23
申请号 CN201510140341.3 申请日期 2015.03.27
申请人 江苏艾科半导体有限公司 发明人 王浩;王刚
分类号 H04B17/00(2015.01)I 主分类号 H04B17/00(2015.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种基于GPIB总线的通用自动测试设备,其特征在于,包括计算机、中央处理器、接口适配器和被测设备,所述被测设备通过接口适配器连接测试仪器,每一所述测试仪器的一端均连接所述中央处理器,每一所述测试仪器的另一端连接接口适配器,所述中央处理器与计算机交互信息。
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