发明名称 |
一种基于GPIB总线的通用自动测试设备 |
摘要 |
本发明涉及一种基于GPIB总线的通用自动测试设备,包括计算机、处理器、接口适配器和被测设备,所述被测设备通过接口适配器连接测试仪器,每一所述测试仪器的一端均连接所述处理器,每一所述测试仪器的另一端连接接口适配器,所述处理器与计算机交互信息。本发明利用GPIB总线和测试仪器对通用设备的射频性能进行自动测试,使用方便,能提高通用设备的研发与生产的进度,系统形成后无需人为参于,可以节约更多的人力成本,为通用设备的性能指标的验证提供了很好的解决方案。 |
申请公布号 |
CN106160881A |
申请公布日期 |
2016.11.23 |
申请号 |
CN201510140341.3 |
申请日期 |
2015.03.27 |
申请人 |
江苏艾科半导体有限公司 |
发明人 |
王浩;王刚 |
分类号 |
H04B17/00(2015.01)I |
主分类号 |
H04B17/00(2015.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种基于GPIB总线的通用自动测试设备,其特征在于,包括计算机、中央处理器、接口适配器和被测设备,所述被测设备通过接口适配器连接测试仪器,每一所述测试仪器的一端均连接所述中央处理器,每一所述测试仪器的另一端连接接口适配器,所述中央处理器与计算机交互信息。 |
地址 |
212009 江苏省镇江市新区四平山路六号智能装备产业园十号楼 |