| 发明名称 | 集成电路、测试设备及射频测试系统 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种集成电路，包括：射频发送器，用以回应测试设备的命令信号以产生射频信号；以及射频接收器，用以依据该射频信号产生评估信号，并回报该评估信号至该测试设备，使得该测试设备对该评估信号执行测试分析以决定测试结果，其中该测试设备在该集成电路的外部。本发明还提供一种测试设备及射频测试系统。本发明可降低设计及制造成本。 | ||
| 申请公布号 | CN103852714B | 申请公布日期 | 2016.11.23 |
| 申请号 | CN201310628205.X | 申请日期 | 2013.11.29 |
| 申请人 | 联发科技股份有限公司 | 发明人 | 陈彦良;彭俊贤;施盈舟;陈俞安;杨钧伟 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人 | 杨颖;张金芝 |
| 主权项 | 一种集成电路，其特征在于，包括：射频发送器，用以回应测试设备的命令信号以产生射频信号，并传送至模块电路；以及射频接收器，用以依据来自该模块电路的该射频信号产生评估信号，并回报该评估信号至该测试设备，使得该测试设备对该评估信号执行测试分析以决定测试结果，其中该测试设备及该模块电路在该集成电路的外部。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹科学工业园区新竹市笃行一路一号 | ||