一种电子元件自动化测量存储系统

摘要

本发明属于测量系统领域，尤其涉及一种电子元件自动化测量存储系统，包括：若干测量装置、存储装置及控制装置，其中，该测量装置用以测量待测电子元件以获取实际电气值；该存储装置用以存储待测电子元件的信息和实际电气值；此外，该控制装置，其分别与测量装置及存储装置连接，该控制装置包括设定单元、控制单元、比较判断单元及显示单元，所述设定单元用以设定待测电子元件的信息，所述控制单元根据设定的信息选择测量装置测量，以得到待测电子元件的实际电气值；所述比较判断单元比较该实际电气值与标准电气值，判断该待测电子元件是否符合规格，所述显示单元用以显示判断结果。本发明不仅出错率低，严格管控了电子元件的质量，且提高了测试效率，有效节省了人力。

主权项

一种电子元件自动化测量存储系统，其用以测试电子元件是否符合规格，包括：若干测量装置，控制装置，存储装置，设定单元，控制单元，比较判断单元，显示单元。