发明名称 掩膜版与焦点偏移的判断方法
摘要 本申请提供了一种掩膜版与焦点偏移的判断方法。该掩膜版包括套刻标记,该套刻标记具有至少两个图形,且各图形平行或垂直,各图形具有至少三个相互平行的矩形,各矩形的宽度不相等,相邻两个矩形之间具有间距。上述掩膜版的图形中的矩形的宽度不相等,当将掩膜版的套刻标记转移到光刻胶上时,若焦点出现较小的偏移,光刻胶上的宽度较小的矩形出现桥接现象,光刻胶上的两个图形的中心点就会偏离初始掩膜版的套刻标记,从而可以判断焦点出现偏移;焦点偏移的程度增加,光刻胶上出现桥接的矩形的数目增加,测量得到中心点的偏移程度增加,所以利用本申请的掩膜版可以灵敏地、实时地判断焦点是否出现了偏移。
申请公布号 CN106154739A 申请公布日期 2016.11.23
申请号 CN201510179230.3 申请日期 2015.04.15
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 邹永祥
分类号 G03F1/42(2012.01)I;G03F1/44(2012.01)I 主分类号 G03F1/42(2012.01)I
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人 赵囡囡;梁文惠
主权项 一种掩膜版,包括套刻标记,所述套刻标记具有至少两个图形,且各所述图形平行或垂直,其特征在于,各所述图形具有至少三个相互平行的矩形,各所述矩形的宽度不相等,相邻两个所述矩形之间具有间距。
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号