发明名称 |
非接触式空间曲线精密测量方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种非接触式空间曲线精密测量方法和装置,其中,该方法包括:确定测量点;获取所述测量点到待测线的起始点i的距离d<sub>i</sub>和第i个点的角度信息;此处i的初值为1;获取所述测量点到待测线的下一个点i+1的距离d<sub>i+1</sub>和第i+1个点角度信息,该点应与前一个点的距离非常近;根据所述第i个点的角度信息和所述第i+1个点角度信息做差确定相对旋转角度α<sub>i</sub>,通过公式<img file="DDA0001016666460000011.GIF" wi="570" he="85" />计算i点到i+1点的近似长度;重复上述过程,不断测量的同时对i进行累加,直至待测线的结束点,n等于i不断累加的最终值,再通过l=l<sub>1</sub>+l<sub>2</sub>+…+l<sub>n</sub>确定所述待测线的长度。通过该发明实施例,能够做到彻底的非接触性测量,在距离测量物体较远的地方进行测量,并且能够达到对曲面的测量的目的。 |
申请公布号 |
CN106123780A |
申请公布日期 |
2016.11.16 |
申请号 |
CN201610417568.2 |
申请日期 |
2016.06.14 |
申请人 |
北京交通大学 |
发明人 |
李虹;项鹏飞;田雨丰;苏美帆 |
分类号 |
G01B11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
张大威 |
主权项 |
一种非接触式空间曲线精密测量方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,确定测量点,i初值为1,点1为待测线的一个端点;S2,获取所述测量点到待测线的点i的距离d<sub>i</sub>和第i个点的角度信息;S3,获取所述测量点到所述待测线的点i+1的距离d<sub>i+1</sub>和第i+1个点的角度信息;S4,根据所述第i个点的角度信息和所述第i+1个点的角度信息通过做差的方式确定相对旋转角度α<sub>i</sub>,运用公式<img file="FDA0001016666430000011.GIF" wi="568" he="83" />确定i点到i+1点长度;S5,判断点i是否为待测线的最后一点,如果不是,则i=i+1且重复执行S2到S4,如果点i为待测线的最后一点,则n=i,执行S6,其中i为测量过程中不断累加的i的最终值;S6,通过公式l=l<sub>1</sub>+l<sub>2</sub>+…+l<sub>n</sub>确定所述待测线的长度。 |
地址 |
100044 北京市海淀区上园村3号 |