发明名称 |
一种基于偶极层的高压AlGaN/GaN MISHEMT器件结构及其制作方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于偶极层的高压AlGaN/GaN MISHEMT器件结构及其制作方法,从下往上依次包括衬底、GaN缓冲层、AlN隔离层、GaN沟道层、AlGaN本征层、AlGaN掺杂层,所述AlGaN掺杂层上设有源极、钝化层1、有机绝缘层PTFE、钝化层2和漏极,所述有机绝缘层PTFE和漏极间设有钝化层2,所述有机绝缘层PTFE上设有ITO栅电极,所述ITO栅电极与所述源极间设有钝化层1,所述ITO栅电极向源极方向延伸填充钝化层1与有机绝缘层PTFE间的区域。本发明采用PTFE和ITO产生偶极子层减小了栅漏局部区域的2DEG,提高了击穿电压;并利用ITO栅场板,再次提高了器件的击穿电压。 |
申请公布号 |
CN104037216B |
申请公布日期 |
2016.11.16 |
申请号 |
CN201410311885.7 |
申请日期 |
2014.07.02 |
申请人 |
西安电子科技大学 |
发明人 |
冯倩;董良;代波;杜锴;郑雪峰;杜鸣;张春福;马晓华;郝跃 |
分类号 |
H01L29/778(2006.01)I;H01L29/40(2006.01)I;H01L29/51(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/778(2006.01)I |
代理机构 |
北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 |
代理人 |
郭官厚 |
主权项 |
一种基于偶极层的高压AlGaN/GaN MISHEMT器件结构,其特征在于,从下往上依次包括衬底、GaN缓冲层、AlN隔离层、GaN沟道层、AlGaN本征层、AlGaN掺杂层,所述AlGaN掺杂层上设有源极、钝化层1、有机绝缘层PTFE、钝化层2和漏极,所述有机绝缘层PTFE和漏极之间设有钝化层2,所述有机绝缘层PTFE上设有ITO栅电极,所述ITO栅电极与所述源极之间设有钝化层1,所述ITO栅电极向源极方向延伸填充钝化层1与有机绝缘层PTFE间的区域。 |
地址 |
710071 陕西省西安市太白南路2号 |