利用岩屑X射线荧光光谱特征进行分层卡层的方法

摘要

本发明公开了一种利用岩屑X射线荧光光谱特征进行分层卡层的方法，其步骤如下：a、熟悉工区区域地层特征和地层划分标准；b、确定分层卡层的标志层或辅助标志层；c、确定不同岩性的特征元素；d、建立工区内XRF剖面模型；e、利用岩屑XRF谱图特征进行岩性的层位归位；f、根据所分析井段岩屑XRF数据绘制岩屑XRF剖面图；g、利用不同岩性特征元素曲线特征法、曲线交会法、元素比值法、特征元素法进行层位划分。本方法克服了钻井新工艺、新技术对现有岩性识别技术的限制和钻井液材料的影响，能客观准确反映地层岩性变化特征，实现了岩性解释微观化和定量化。

主权项

一种利用岩屑X射线荧光光谱特征进行分层卡层的方法，其特征在于步骤如下：a、熟悉工区区域地层特征和地层划分标准；b、确定分层卡层的标志层或辅助标志层；c、确定不同岩性的特征元素；d、建立工区内XRF剖面模型；e、利用岩屑XRF谱图特征进行岩性的层位归位；f、根据所分析井段岩屑XRF数据绘制岩屑XRF剖面图；g、利用不同岩性特征元素曲线特征法、曲线交会法、元素比值法、特征元素法进行层位划分。