发明名称 |
绝缘子界面质量的检测方法、装置及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种绝缘子界面质量的检测方法、装置及系统。其中,该方法包括:检测待测绝缘子在单位面积上的分离功;通过泄漏电流测试回路检测待测绝缘子的泄漏电流和预设芯棒的泄漏电流;根据待测绝缘子的泄漏电流和预设芯棒的泄漏电流获取待测绝缘子的界面泄漏电流;根据分离功和界面泄漏电流确定待测绝缘子的界面质量。本发明解决了现有技术中的绝缘子的界面质量检测准确度较差的技术问题。 |
申请公布号 |
CN106123952A |
申请公布日期 |
2016.11.16 |
申请号 |
CN201610429817.X |
申请日期 |
2016.06.16 |
申请人 |
华北电力大学 |
发明人 |
屠幼萍;袁之康;段明明;王璁;姜涵;王景春 |
分类号 |
G01D21/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01D21/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 |
代理人 |
韩建伟;张永明 |
主权项 |
一种绝缘子界面质量的检测方法,其特征在于,包括:检测待测绝缘子在单位面积上的分离功;通过泄漏电流测试回路检测所述待测绝缘子的泄漏电流和预设芯棒的泄漏电流;根据所述待测绝缘子的泄漏电流和所述预设芯棒的泄漏电流获取所述待测绝缘子的界面泄漏电流;根据所述分离功和所述界面泄漏电流确定所述待测绝缘子的界面质量。 |
地址 |
102206 北京市昌平区回龙观镇北农路2号华北电力大学 |