发明名称 时域荧光寿命成像结构及寿命测试获取方法
摘要 本发明涉及荧光寿命成像领域,为提供基于门控环形振荡器(Gated Ring Oscillator,GRO)的时域荧光寿命成像系统,简化像素内信号处理的流程,降低数据率,进而解决由数据率高带来的功耗高、帧频低的问题。本发明采用的技术方案是,时域荧光寿命成像结构,由集成像素阵列、数据总线、锁相环PLL(Phase Locked Loop)阵列和时序控制单元组成,并集成在成像芯片上;其中,PLL阵列共用相同的参考时钟输入,每个PLL的控制电压信号与相同行集成像素内的TDC控制电压端相连;时序控制单元用于控制调节成像芯片工作流程,数据总线用于像素阵列的数据读出。本发明主要应用于成像芯片设计制造。
申请公布号 CN106124471A 申请公布日期 2016.11.16
申请号 CN201610578033.3 申请日期 2016.07.19
申请人 天津大学 发明人 徐江涛;乔俊;高静;史再峰;高志远;聂凯明
分类号 G01N21/64(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 刘国威
主权项 一种时域荧光寿命成像结构,其特征是,由集成像素阵列、数据总线、锁相环PLL(Phase Locked Loop)阵列和时序控制单元组成,并集成在成像芯片上;其中,PLL阵列共用相同的参考时钟输入,每个PLL的控制电压信号与相同行集成像素内的TDC控制电压端相连;时序控制单元用于控制调节成像芯片工作流程,数据总线用于像素阵列的数据读出;每个集成像素的寄存器组通过多路选择开关MUX(Multiplexer,MUX)与数据总线相连,多路选择开关MUX由行选、列选信号控制;集成像素由SPAD感光器件、主动淬灭与复位电路、基于门控环形振荡器GRO的时间量化单元、一组P位计数器A、一组Q位计数器B、一组(P+Q)位寄存器构成;其中,GRO采用基于MOS晶体管开关调控的反相器结构,奇数数目的GRO首尾相连组成一个环形振荡器作为时间量化单元,环路内的GRO共享同一控制电压;P位计数器A用于记录探测到的总光子数,Q位计数器B用于累加光子到达时间的总量化码值;淬灭电路用于监测SPAD的雪崩倍增过程并及时关闭雪崩电流;SPAD的输出同时连接到时间量化TDC组与P位计数器A;TDC组的输出连接到Q位计数器B;两组计数器的输出通过多路选择开关连接到(P+Q)位寄存器组,多路选择开关由时序控制单元提供时钟信号。
地址 300072 天津市南开区卫津路92号