发明名称 |
多通道磁共振射频线圈性能评估方法及其装置 |
摘要 |
本发明提供一种多通道磁共振射频线圈性能评估方法及其装置,该方法包括:获取一多通道磁共振射频线圈中各通道射频线圈所采集的待测区的信号图像和相应的噪声图像;利用各所述噪声图像计算得到所述多通道磁共振射频线圈的噪声耦合矩阵;利用所述信号图像和所述噪声耦合矩阵,通过平方和方法与协方差加权和方法分别计算所述多通道磁共振射频线圈的信噪比图像,得到第一信噪比图像和第二信噪比图像;通过比较所述第一信噪比图像和所述第二信噪比图像评估所述多通道磁共振射频线圈的性能。本发明能够简单有效地评估多通道磁共振射频线圈的性能。 |
申请公布号 |
CN106125029A |
申请公布日期 |
2016.11.16 |
申请号 |
CN201610447319.8 |
申请日期 |
2016.06.21 |
申请人 |
中国科学院深圳先进技术研究院 |
发明人 |
胡小情;陈潇;李烨;刘新;钟耀祖 |
分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R35/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
王涛 |
主权项 |
一种多通道磁共振射频线圈性能评估方法,其特征在于,包括:获取一多通道磁共振射频线圈中各通道射频线圈所采集的待测区的信号图像和相应的噪声图像;利用各所述噪声图像计算得到所述多通道磁共振射频线圈的噪声耦合矩阵;利用所述信号图像和所述噪声耦合矩阵,通过平方和方法与协方差加权和方法分别计算所述多通道磁共振射频线圈的信噪比图像,得到第一信噪比图像和第二信噪比图像;通过比较所述第一信噪比图像和所述第二信噪比图像评估所述多通道磁共振射频线圈的性能。 |
地址 |
518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号 |