一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法

摘要

本发明提出一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法，该方法利用液晶构建相位调制分别为0和的光栅，通过傅里叶光学的方法分析衍射光栅0级衍射主极大处光强和调制相位的关系，将光强值对应到调制相位，再根据实测光强和供电电压的对应关系，就得到了相位值和供电电压的对应关系，也就是液晶相位光栅的相位调制特性。本发明能准确、方便、快捷的测量出液晶的调制相位特性，是一种切实可行的测量方法。

主权项

一种基于衍射光栅的液晶相位调制特性的测量方法，其特征在于：包括以下步骤：在液晶上构建相位光栅，液晶电极供电电压可调整，用光电传感器接收激光通过液晶光栅后的第0级衍射光强，通过理论计算衍射屏处第0级衍射光强与相位值的对应关系，以及实测的光强和PWM波脉宽的对应关系，就测出了相位值与PWM波脉宽的对应关系，即测出了液晶相位调制特性。