| 发明名称 | 用于电离样品的质谱分析探针和系统 | ||
| 摘要 | 本发明大体上涉及用于电离样品的质谱分析探针和系统。在某些实施例中，本发明提供一种质谱分析探针，其包括衬底，其中该衬底的一部分涂布有一种材料，其一部分从该衬底突出。 | ||
| 申请公布号 | CN106102873A | 申请公布日期 | 2016.11.09 |
| 申请号 | CN201480076440.3 | 申请日期 | 2014.12.22 |
| 申请人 | 普度研究基金会;印度理工学院马德拉斯分校 | 发明人 | 罗伯特·格雷厄姆·库克斯;D·萨卡尔;塔拉皮·普拉迪普;R·玛拉亚南 |
| 分类号 | B01D59/44(2006.01)I;H01J49/16(2006.01)I;H01J49/04(2006.01)I | 主分类号 | B01D59/44(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 韩蕾;姚亮 |
| 主权项 | 一种质谱分析探针，其包含衬底，其中所述衬底的一部分涂布有一种材料，其一部分从所述衬底突出。 | ||
| 地址 | 美国印第安纳州 | ||