| 发明名称 | 一种利用单模错位光纤同时测量温度和材料应变的方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种利用单模错位光纤同时测量温度和材料应变的方法，所述方法包括如下步骤：a)选取三段单模光纤进行错位熔接，得到错位传感器；b)将所述错位传感器与光纤光栅熔接，进行温度标定和材料应变标定；c)采集错位传感器与光纤光栅的波长漂移量，拟合错位传感器与光纤光栅的波长漂移量随温度和材料应变变化量的关系曲线；d)利用步骤c)的关系曲线对待测环境中的温度和材料应变同时测量。本发明将错位传感器和光纤光栅熔接在一起，由于光纤光栅和错位干涉结构具有不同的温度和材料应变传感灵敏度，实现了同时对温度以及材料应变进行测量。 | ||
| 申请公布号 | CN106092214A | 申请公布日期 | 2016.11.09 |
| 申请号 | CN201610754044.2 | 申请日期 | 2016.08.29 |
| 申请人 | 北京信息科技大学 | 发明人 | 祝连庆;何巍;董明利;娄小平;庄炜;刘锋;姚齐峰 |
| 分类号 | G01D21/02(2006.01)I;G01D5/353(2006.01)I | 主分类号 | G01D21/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 | 代理人 | 顾珊;陈轶兰 |
| 主权项 | 一种利用单模错位光纤同时测量温度和材料应变的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：a)选取三段单模光纤进行错位熔接，得到错位传感器；b)将所述错位传感器与光纤光栅熔接，进行温度标定和材料应变标定；c)采集错位传感器与光纤光栅的波长漂移量，拟合错位传感器与光纤光栅的波长漂移量随温度和材料应变变化量的关系曲线；d)利用步骤c)的关系曲线对待测环境中的温度和材料应变同时测量。 | ||
| 地址 | 100085 北京市海淀区清河小营东路12号北京信息科技大学光电学院 | ||