发明名称 半导体装置
摘要 在具有SJ构造的半导体装置中,能够减少输出电容损失,并且抑制复原噪声和浪涌电压的增加。在第2导电型列区域(3)以及位于第2导电型列区域(3)上的半导体层(4)的至少某一方设置第1导电型区域(6),该第1导电型区域(6)在第1电极(13)和第2电极(12)之间的电压为0时具有非耗尽层区域。并且,当第1电极(13)和第2电极(12)之间的电压为规定电压时,形成在第1导电型列区域(2)和第2导电型列区域(3)及第2导电型层(4)的界面的耗尽层(14)、以及形成在第1导电型区域(6)和该第1导电型区域(6)所形成的区域的界面之间的耗尽层(14)相连。
申请公布号 CN106104808A 申请公布日期 2016.11.09
申请号 CN201580015009.2 申请日期 2015.03.16
申请人 株式会社电装 发明人 利田祐麻;赤木望
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 高迪
主权项 一种半导体装置,具有半导体基板(5),所述半导体基板(5)具备:半导体层(1),由第1导电型或第2导电型构成;第1导电型列区域(2),设置在所述半导体层上;第2导电型列区域(3),设置在所述半导体层上,与所述第1导电型列区域一起构成超结构造;以及第2导电型层(4),设置在所述第1导电型列区域及所述第2导电型列区域上,在与所述半导体层电连接的第1电极(13)和与所述第2导电型层电连接的第2电极(12)之间流动电流,所述半导体装置还具备第1导电型区域(6),该第1导电型区域(6)设置在所述第2导电型列区域以及位于所述第2导电型列区域上的半导体层的至少某一方,所述第1导电型区域在所述第1电极和所述第2电极之间的电压为0时具有非耗尽层区域,当所述第1电极和所述第2电极之间的电压为规定电压时,形成在所述第1导电型列区域和所述第2导电型列区域及所述第2导电型层的界面的耗尽层(14)、以及形成在所述第1导电型区域和该第1导电型区域所形成的区域的界面之间的耗尽层(14)相连。
地址 日本爱知县