发明名称 Probe card
摘要 프로브 카드는 탐침 구조물들, 조각 기판들, 인터페이스 블록들, 지지기판 및 회로 기판을 포함한다. 탐침 구조물들은 물리적 접촉을 통해 검사 대상체의 칩 패드에 전기적 신호를 송수신하는 탐침을 갖는다. 조각 기판들은 탐침 구조물들의 하부에 각각 배치되고, 탐침과 전기적으로 연결되며 상하부면에서 간격이 서로 다른 배선들을 갖는다. 인터페이스 블록들은 조각 기판들의 하부에 각각 배치되고, 배선들과 각각 연결되며 상하부면에서 간격이 동일한 연결 부재들을 갖는다. 지지기판은 인터페이스 블록들이 각각 착탈가능하도록 삽입되는 관통홀들을 가지며, 인터페이스 블록들을 지지한다. 회로 기판은 지지기판의 하부에 배치되며, 인터페이스 블록들의 연결 부재들과 각각 전기적으로 연결되는 배선들을 갖는다.
申请公布号 KR101674135(B1) 申请公布日期 2016.11.09
申请号 KR20100003060 申请日期 2010.01.13
申请人 (주)엠투엔 发明人 김형익;이호준
分类号 G01R31/28;G01R1/073;G01R3/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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