一种电子设备测试系统及IP地址设定方法

摘要

本发明涉及一种电子设备测试系统及IP地址设定方法，其方法步骤如下：(a)依次将待测电子设备放入测试柜并接通电源；(b)测试柜控制器进行位置号识别和标记，并将IP＝j+i发送给待测电子设备，并确认IP设定成功；(c)所有待测电子设备放置完毕并且均收到测试柜控制器下发的IP地址之后，运行上位机测试程序；(d)上位机发出测试流程的第一步指令，即获取待测电子设备IP地址；(e)测试柜控制器收到上位机发出的获取IP地址命令之后，分配待测电子设备的IP地址；(f)上位机依据获取的IP地址建立测试数据库，快速有效解决IP地址与位置编号不一致的问题，为设备组网地址分配领域提供了一种新的方案。

主权项

一种电子设备测试系统，其包括上位机、测试柜控制器、功能测试模拟设备以及若干待测电子设备，其特征在于：其还设有与若干倒T型DA转换电路以及用于切换倒T型DA转换电路的多路选择开关，所述待测电子设备通过倒T型DA转换电路与多路选择开关连接，所述待测电子设备与测试柜控制器通信连接，所述测试柜控制器与多路选择开关连接，所述测试柜控制器与上位机连接，所述倒T型DA转换电路包括正负输入端，所述正负输入端之间对应待测电子设备的位置设置切换开关，通过切换开关的闭合闸使得倒T型DA转换电路的输出电压V₀的大小发生变化，并将该电压V₀通过多路选择开关输入到测试柜控制器，根据切换开关的时间差以及多路选择开关的不同输入端口获得当前装入待测电子设备的放置编号。